產品(pin)簡介(jie)

CST-50型沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)投影(ying)儀(yi)是(shi)我(wo)們(men)根據目(mu)前國內廣(guang)大(da)用戶的(de)實際(ji)需(xu)求和(he)GB/T229-2020《金(jin)屬(shu)夏(xia)比(bi)擺錘沖擊試(shi)驗(yan)方法(fa)》中(zhong)對沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)的(de)要(yao)求而(er)設(she)計(ji)、開發(fa)的(de)壹種專用於(yu)檢(jian)查夏(xia)比(bi)V型和(he)U型沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)加(jia)工(gong)質量的(de)專用光(guang)學儀(yi)器(qi)，

CST-50型沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)投影(ying)儀(yi)是(shi)我(wo)們(men)根據目(mu)前國內廣(guang)大(da)用戶的(de)實際(ji)需(xu)求和(he)GB/T229-2020《金(jin)屬(shu)夏(xia)比(bi)擺錘沖擊試(shi)驗(yan)方法(fa)》中(zhong)對沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)的(de)要(yao)求而(er)設(she)計(ji)、開發(fa)的(de)壹種專用於(yu)檢(jian)查夏(xia)比(bi)V型和(he)U型沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)加(jia)工(gong)質量的(de)專用光(guang)學儀(yi)器(qi)，該(gai)儀(yi)器(qi)是(shi)利用光(guang)學投影方法(fa)將(jiang)被(bei)測(ce)的(de)沖擊試(shi)樣(yang)V或(huo)U型缺(que)口(kou)輪(lun)廓放(fang)大投射(she)到(dao)投影(ying)屏(ping)上(shang)，與(yu)投影(ying)屏(ping)上(shang)沖擊試(shi)樣(yang)V和(he)U型缺(que)口(kou)標準樣(yang)板(ban)圖比對，以確定被檢(jian)測(ce)的(de)沖擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)加(jia)工(gong)是否合(he)格，其(qi)優點(dian)是(shi)操(cao)作簡便，檢(jian)查對(dui)比(bi)直(zhi)觀，效(xiao)率高(gao)。CST-50型是(shi)我(wo)們(men)根據目(mu)前國內廣(guang)大(da)用戶的(de)實際(ji)需(xu)求和(he)GB/T229-2020《金(jin)屬(shu)夏(xia)比(bi)擺錘沖擊試(shi)驗(yan)方法(fa)》中(zhong)對沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)的(de)要(yao)求而(er)設(she)計(ji)、開發(fa)的(de)壹種專用於(yu)檢(jian)查夏(xia)比(bi)V型和(he)U型沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)加(jia)工(gong)質量的(de)專用光(guang)學儀(yi)器(qi)，該(gai)儀(yi)器(qi)是(shi)利用光(guang)學投影方法(fa)將(jiang)被(bei)測(ce)的(de)沖擊試(shi)樣(yang)V或(huo)U型缺(que)口(kou)輪(lun)廓放(fang)大投射(she)到(dao)投影(ying)屏(ping)上(shang)，與(yu)投影(ying)屏(ping)上(shang)沖擊試(shi)樣(yang)V和(he)U型缺(que)口(kou)標準樣(yang)板(ban)圖比對，以確定被檢(jian)測(ce)的(de)沖擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)加(jia)工(gong)是否合(he)格，其(qi)優點(dian)是(shi)操(cao)作簡便，檢(jian)查對(dui)比(bi)直(zhi)觀，效(xiao)率高(gao)。CST-50型是(shi)我(wo)們(men)根據目(mu)前國內廣(guang)大(da)用戶的(de)實際(ji)需(xu)求和(he)GB/T229-2020《金(jin)屬(shu)夏(xia)比(bi)擺錘沖擊試(shi)驗(yan)方法(fa)》中(zhong)對沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)的(de)要(yao)求而(er)設(she)計(ji)、開發(fa)的(de)壹種專用於(yu)檢(jian)查夏(xia)比(bi)V型和(he)U型沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)加(jia)工(gong)質量的(de)專用光(guang)學儀(yi)器(qi)，該(gai)儀(yi)器(qi)是(shi)利用光(guang)學投影方法(fa)將(jiang)被(bei)測(ce)的(de)沖擊試(shi)樣(yang)V或(huo)U型缺(que)口(kou)輪(lun)廓放(fang)大投射(she)到(dao)投影(ying)屏(ping)上(shang)，與(yu)投影(ying)屏(ping)上(shang)沖擊試(shi)樣(yang)V和(he)U型缺(que)口(kou)標準樣(yang)板(ban)圖比對，以確定被檢(jian)測(ce)的(de)沖擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)加(jia)工(gong)是否合(he)格，其(qi)優點(dian)是(shi)操(cao)作簡便，檢(jian)查對(dui)比(bi)直(zhi)觀，效(xiao)率高(gao)。CST-50型是(shi)我(wo)們(men)根據目(mu)前國內廣(guang)大(da)用戶的(de)實際(ji)需(xu)求和(he)GB/T229-2020《金(jin)屬(shu)夏(xia)比(bi)擺錘沖擊試(shi)驗(yan)方法(fa)》中(zhong)對沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)的(de)要(yao)求而(er)設(she)計(ji)、開發(fa)的(de)壹種專用於(yu)檢(jian)查夏(xia)比(bi)V型和(he)U型沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)加(jia)工(gong)質量的(de)專用光(guang)學儀(yi)器(qi)，該(gai)儀(yi)器(qi)是(shi)利用光(guang)學投影方法(fa)將(jiang)被(bei)測(ce)的(de)沖擊試(shi)樣(yang)V或(huo)U型缺(que)口(kou)輪(lun)廓放(fang)大投射(she)到(dao)投影(ying)屏(ping)上(shang)，與(yu)投影(ying)屏(ping)上(shang)沖擊試(shi)樣(yang)V和(he)U型缺(que)口(kou)標準樣(yang)板(ban)圖比對，以確定被檢(jian)測(ce)的(de)沖擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)加(jia)工(gong)是否合(he)格，其(qi)優點(dian)是(shi)操(cao)作簡便，檢(jian)查對(dui)比(bi)直(zhi)觀，效(xiao)率高(gao)。CST-50型是(shi)我(wo)們(men)根據目(mu)前國內廣(guang)大(da)用戶的(de)實際(ji)需(xu)求和(he)GB/T229-2020《金(jin)屬(shu)夏(xia)比(bi)擺錘沖擊試(shi)驗(yan)方法(fa)》中(zhong)對沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)的(de)要(yao)求而(er)設(she)計(ji)、開發(fa)的(de)壹種專用於(yu)檢(jian)查夏(xia)比(bi)V型和(he)U型沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)加(jia)工(gong)質量的(de)專用光(guang)學儀(yi)器(qi)，該(gai)儀(yi)器(qi)是(shi)利用光(guang)學投影方法(fa)將(jiang)被(bei)測(ce)的(de)沖擊試(shi)樣(yang)V或(huo)U型缺(que)口(kou)輪(lun)廓放(fang)大投射(she)到(dao)投影(ying)屏(ping)上(shang)，與(yu)投影(ying)屏(ping)上(shang)沖擊試(shi)樣(yang)V和(he)U型缺(que)口(kou)標準樣(yang)板(ban)圖比對，以確定被檢(jian)測(ce)的(de)沖擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)加(jia)工(gong)是否合(he)格，其(qi)優點(dian)是(shi)操(cao)作簡便，檢(jian)查對(dui)比(bi)直(zhi)觀，效(xiao)率高(gao)。CST-50是我(wo)們(men)根據目(mu)前國內廣(guang)大(da)用戶的(de)實際(ji)需(xu)求和(he)GB/T229-2020《金(jin)屬(shu)夏(xia)比(bi)擺錘沖擊試(shi)驗(yan)方法(fa)》中(zhong)對沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)的(de)要(yao)求而(er)設(she)計(ji)、開發(fa)的(de)壹種專用於(yu)檢(jian)查夏(xia)比(bi)V型和(he)U型沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)加(jia)工(gong)質量的(de)專用光(guang)學儀(yi)器(qi)，該(gai)儀(yi)器(qi)是(shi)利用光(guang)學投影方法(fa)將(jiang)被(bei)測(ce)的(de)沖擊試(shi)樣(yang)V或(huo)U型缺(que)口(kou)輪(lun)廓放(fang)大投射(she)到(dao)投影(ying)屏(ping)上(shang)，與(yu)投影(ying)屏(ping)上(shang)沖擊試(shi)樣(yang)V和(he)U型缺(que)口(kou)標準樣(yang)板(ban)圖比對，以確定被檢(jian)測(ce)的(de)沖擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)加(jia)工(gong)是否合(he)格，其(qi)優點(dian)是(shi)操(cao)作簡便，檢(jian)查對(dui)比(bi)直(zhi)觀，效(xiao)率高(gao)。CST-50型沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)投影(ying)儀(yi)是(shi)我(wo)們(men)根據目(mu)前國內廣(guang)大(da)用戶的(de)實際(ji)需(xu)求和(he)GB/T229-2020《金(jin)屬(shu)夏(xia)比(bi)擺錘沖擊試(shi)驗(yan)方法(fa)》中(zhong)對沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)的(de)要(yao)求而(er)設(she)計(ji)、開發(fa)的(de)壹種專用於(yu)檢(jian)查夏(xia)比(bi)V型和(he)U型沖(chong)擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)加(jia)工(gong)質量的(de)專用光(guang)學儀(yi)器(qi)，該(gai)儀(yi)器(qi)是(shi)利用光(guang)學投影方法(fa)將(jiang)被(bei)測(ce)的(de)沖擊試(shi)樣(yang)V或(huo)U型缺(que)口(kou)輪(lun)廓放(fang)大投射(she)到(dao)投影(ying)屏(ping)上(shang)，與(yu)投影(ying)屏(ping)上(shang)沖擊試(shi)樣(yang)V和(he)U型缺(que)口(kou)標準樣(yang)板(ban)圖比對，以確定被檢(jian)測(ce)的(de)沖擊試(shi)樣(yang)缺(que)口(kou)加(jia)工(gong)是否合(he)格，其(qi)優點(dian)是(shi)操(cao)作簡便，檢(jian)查對(dui)比(bi)直(zhi)觀，效(xiao)率高(gao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